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照明用功率LED的加速寿命试验
被引:4
作者
:
高兆丰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
国家半导体器件质量监督检验中心
高兆丰
曹耀龙
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机构:
国家半导体器件质量监督检验中心
曹耀龙
高金环
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机构:
国家半导体器件质量监督检验中心
高金环
黄杰
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机构:
国家半导体器件质量监督检验中心
黄杰
徐立生
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机构:
国家半导体器件质量监督检验中心
徐立生
机构
:
[1]
国家半导体器件质量监督检验中心
来源
:
半导体光电
|
2009年
/ 30卷
/ 04期
关键词
:
功率发光二极管;
加速寿命试验;
加速系数;
激活能;
使用寿命;
D O I
:
10.16818/j.issn1001-5868.2009.04.014
中图分类号
:
TN312.8 [];
学科分类号
:
0803 ;
摘要
:
阐述了照明用功率发光二极管(LED)的退化规律,提出了一种实用的加速寿命试验方法来评估功率LED的长期使用寿命,并使用该方法分别对LUMILEDS公司1 W白光LED和CREE公司1 W蓝光LED的使用寿命进行了评估。
引用
收藏
页码:534 / 535+540 +540
页数:3
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可靠性试验用表[M]. 国防工业出版社 , 中国电子技术标准化研究所 编著, 1987
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