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星敏感器光学系统弥散斑测试方法
被引:9
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
周艳
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
赵建科
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
昌明
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
潘亮
机构
:
[1]
中国科学院西安光学精密机械研究所
来源
:
应用光学
|
2009年
/ 30卷
/ 03期
关键词
:
星敏感器光学系统;
弥散斑;
测量误差;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
V447.1 [];
学科分类号
:
08 ;
0825 ;
摘要
:
提出了一种星敏感器光学系统弥散斑尺寸的测试方法,主要是利用平行光管、转台和CCD显微摄像系统组成弥散斑测量系统,采集图像后,采用双三次插值像元细分,提取图像中灰度值,依据瑞利判据计算弥散斑尺寸。通过实际测量和试验验证,光学系统0.8视场弥散斑测量精度可以达到0.5μm,重复测量精度可达0.2μm。
引用
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页码:454 / 456
页数:3
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[1]
星敏感器中星图图像的星体细分定位方法研究
[J].
魏新国
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机构:
北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院
魏新国
;
张广军
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机构:
北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院
张广军
;
江洁
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机构:
北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院
江洁
.
北京航空航天大学学报,
2003,
(09)
:812
-815
[2]
应用光学.[M].高凤武;李继祥 主编.解放军出版社.1986,
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