共 1 条
[1]
用于微波天线的三维面形测量技术
被引：15
作者：
吕乃光
桑新柱
邓文怡
董明利
机构：
[1] 北京机械工业学院电子信息工程系
来源：
关键词：
微波天线;
视觉测量;
三维测量;
D O I：
10.13245/j.hust.2002.05.006
中图分类号：
TH741 [光学计量仪器];
学科分类号：
080401 [精密仪器及机械];
摘要：
在三维立体视觉测量原理的基础上 ,建立了用于微波天线面形测量的三维视觉测量系统 .分析了该测量系统优于其他测量系统的主要优点 ,给出了它的测量原理 ,介绍了系统组成及其功能 ,通过对微波天线的面形测量 ,验证其可行性 .对空间点位进行多次重复测量表明 :x ,y方向的测量标准差优于 0 .1mm ,z方向的测量标准差优于 0 .18mm ,满足微波天线的面形测量要求
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