EDXRF 无损检测青花瓷器的研究

被引：8

作者：

苗建民

余君岳

李德卉

机构：

[1] 故宫博物院

[2] 香港城市大学

来源：

核技术 | 1997年 / 09期

关键词：

EDXRF，青花瓷器，无损检测，扩散现象，半值厚度;

D O I：

暂无

中图分类号：

TQ174.72 [瓷器];

学科分类号：

080503 ;

摘要：

用ＥＤＸＲＦ方法测量青花瓷器中元素含量的研究结果表明：在青花瓷器的烧制过程中，存在色料层元素向釉层的扩散现象，通过对青花瓷器半值厚度的计算，发现瓷胎中有些元素对上述测量结果也有贡献。实验还发现，同一瓷器，不含青花纹饰的釉层各元素的测量结果与所测部位无关，而含纹饰的釉层有些元素的测量结果随位置而改变。

引用

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