计算局部放电电容增量和损耗因数增量的方法(摘要)

被引：3

作者：

任佩余

周健平

机构：

[1] 西安交通大学

[2] 中国科学院电工研究所

来源：

关键词：

局部放电; 损耗因数; 电容;

D O I：

10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.1986.02.003

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

<正> 对于高压旋转电机,局部放电是引起线棒绝缘老化的重要因素之一。T.W.Dakin等人提出用平行四边形法研究绝缘系统约局部放电特性。用Dakin方法得到的局部放电电容增量△C′=dQ/dV大于用西林电桥法测量得到的结果△C″。本文提出了一个新的方法,借助于平行四边形的测量参

引用

页码：14+21 / 14 +21

页数：2