竞争失效产品恒定应力加速寿命试验的优化设计

被引：20

作者：

葛广平

刘立喜

机构：

[1] 上海大学理学院数学系

[2] 上海交通大学管理学院

来源：

应用概率统计 | 2002年 / 03期

关键词：

恒加试验; 竞争失效机理; 优化设计;

D O I：

暂无

中图分类号：

O213.2 [可靠性理论];

学科分类号：

摘要：

本文在一般k个未知参数的加速寿命方程下,以各失效机理的对数平均寿命的MLE的渐近方差之和最小为准则,解决了指数分布场合下具有p（p≥1）个竞争机理的产品,k个应力情况下的恒加试验的优化设计问题,对它的结论从不同侧面特殊化,得到一系列推论,并与D.S.Bai,Y.R.Chun（1991）,D.S.Bai,M.S.Kim,S.H.Lee（1989）,R.Miller,W.B.Nelson（1983）,程依明（1994）等步加试验优化设计所得结论比较,可知所有结论都是对应的且有些结论是完全一致的.

引用

页码：260 / 268

页数：9