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一种图象中基元检测的新方法
被引：10
作者：
刘健庄
谢维信
高新波
机构：
[1] 西安电子科技大学教研室,西安电子科技大学教研室,西安电子科技大学教研室西安,西安,西安
来源：
关键词：
圆检测;
模板匹配;
Hough变换;
遗传算法;
D O I：
暂无
中图分类号：
TP391.4 [模式识别与装置];
学科分类号：
081102 [检测技术与自动化装置];
摘要：
在模式识别和机器视觉中,常常需要进行图象中的基元检测。本文以圆的检测为例提出了一种利用遗传算法进行基元检测的方法。实验结果表明,本文方法与通常的模板匹配和Hough变换相比速度大大提高。
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页数：7
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