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粗光栅位移测量系统细分误差的来源与消除分析
被引:6
作者
:
林鹏,陈小强,袁祥辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
重庆大学国家教委光电技术及系统开放实验室
林鹏,陈小强,袁祥辉
机构
:
[1]
重庆大学国家教委光电技术及系统开放实验室
来源
:
现代计量测试
|
1996年
/ 01期
关键词
:
粗光栅,细分误差,来源与消除;
D O I
:
10.16428/j.cnki.cn11-4827/t.1996.01.009
中图分类号
:
TH741.6 [];
学科分类号
:
0803 ;
摘要
:
本文从粗线纹光栅位移测量系统的原理出发,对里周期性变化的细分误差作了详细的理论分析,并得到了实验的验证.同时提出了从硬件上和软件上消除细分误差的方法,为进一步研制高精度数显系统打下基础。
引用
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页码:42 / 50
页数:9
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