光耦器件瞬态饱和对微机保护装置的影响及对策

提出在快速瞬变扰动的作用下,光耦器件将产生瞬时饱和现象。指出瞬变扰动从直流电源、交流电流、电压端口施加时,即使开关量输入没有任何信号,光耦器件的输出也一直存在电平跌落、再恢复的过程,该过程伴随着每一个瞬变脉冲,相当于光耦器件已经导通,影响开关量输入的正确性。光耦器件用于串行口、开关量输出等回路时也存在上述现象。因此认为光耦器件瞬时饱和现象是普遍存在的,对微机保护装置影响较大,同时提出基于硬件、软件的解决方案。