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低含量铀,钍的X射线荧光光谱法测定
被引：6
作者：
张鸿文
甘璇玑
肖德明
机构：
[1] 北京铀矿地质研究所
来源：
关键词：
D O I：
暂无
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学科分类号：
摘要：
<正> 目前仪器分析低含量铀、钍的最佳方法是中子活化,质谱以及激光荧光法。自75年以来,不少研究单位已开始使用X荧光光谱法分析地质样品中的低含量铀和钍。其优点是制样简单,分析速度快,而且除了铀、钍含量外,还可同时测定诸如铷、锶、铅和钾等元素的含量。但到目前为止,人们
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