共 1 条
基于汉明纠错编码的AES硬件容错设计与实现
被引：8
作者：
唐明
张国平
张焕国
机构：
[1] 武汉大学计算机学院
[2] 武汉数字工程研究所
[3] 武汉大学计算机学院 湖北武汉
[4] 湖北武汉
来源：
关键词：
高级加密标准;
汉明码;
容错;
纠错码;
故障发现;
D O I：
暂无
中图分类号：
TP393.08 [];
学科分类号：
0839 ;
1402 ;
摘要：
提出一种AES硬件容错设计可避免攻击者利用在AES设计环节中插入故障位实现攻击.在原有AES硬件设计中加入汉明码纠错电路,能自动纠正同一字节内的所有单比特故障,硬件仿真实验证明,故障发现率接近100%.针对不同AES设计结构和测试点配置对纠错电路的资源及速度进行了分析,实验结果表明我们提出的硬件容错设计有很强的可行性.
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