一起363kVGIS充电闪络故障的原因分析

被引：36

作者：

徐世山

孟可风

刘文泉

机构：

[1] 青海电力试验研究所

来源：

关键词：

全封闭组合电器; 充电; 闪络; 故障;

D O I：

10.13296/j.1001-1609.hva.2007.01.023

中图分类号：

TM59 [成套电器];

学科分类号：

摘要：

分析了一起363kVGIS充电时闪络故障的原因,提出了GIS交接试验中做交流耐压试验的同时应进行局部放电的测量,并在条件许可的情况下进行操作冲击电压试验,以避免如绝缘子伤痕和裂痕、自由微粒、悬浮电位和异物遗留在GIS内部等原因而造成GIS故障。

引用

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