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外阳离子对SiO44-畸变的微扰效应
被引：1
作者：
高孝恢
邹祖荣
杨频
机构：
[1] 长春地质学院
[2] 山西大学
来源：
关键词：
SiO4;
微扰;
阳离子;
正离子;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
<正> 很久以来,一直把硅酸盐中的SiO44-当作具有Td对称构型。经过近代实验测定,几乎所有的硅酸盐矿物和材料,其中Si-O4都发生畸变,即使只有Si-O键的石英晶体,Si-O4也远非正四面体。含有不同外阳离子的正硅酸盐,畸变更显著。但是SiO44-的几何构型,主要由四个Si-O键性质决定,与它匹配的外阳
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