X-射线荧光光谱法无损连续测定超导带表面薄层中Nb-Sn原子个数之比

被引：1

作者：

周家泉

欧通桃

王文爽

李建华

机构：

[1] 冶金工业部有色金属研究院

来源：

关键词：

标样; 基带; 厚度; 标准样品; 薄层; 地层; Nb-Sn; 样品室; 连续测定; 元素原子; 原子比; 荧光光谱; 个数;

D O I：

10.13373/j.cnki.cjrm.1979.03.009

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

<正> Nb3Sn是一种重要的超导材料,冶金上采用气相沉积、溅射等方法,使Nb3Sn在多元合金基带表面上形成薄层,制备超导带材。现有的湿法化学分析,有Nb的重量法、光度法,Sn的碘量法。湿法化学分析不仅

引用

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