共 12 条
X射线荧光光谱分析进展
被引:9
作者:
谢荣厚
高新华
邬时海
机构:
[1] 冶金部钢铁研究总院
[2] 冶金部自动化研究院 北京
来源:
关键词:
射线管;
同步辐射;
软件;
射线理论;
磁轫致辐射;
轫致辐射;
测角仪;
测量仪表;
XRF;
基本参数法;
荧光光谱分析;
荧光分析;
飞利浦;
射线荧光分析;
重元素;
扫描道;
D O I:
10.13228/j.issn.1000-7571.1997.02.010
中图分类号:
TG115.33 [];
学科分类号:
080502 ;
摘要:
<正> 90年代以来,随着电子技术和电子计算机的飞速发展,X 射线光谱仪,X 荧光分析技术和计算机软件方面的进步是十分引人注目的。世界各主要仪器制造商相继推出了由计算机控制的高智能化、自动化和小型化的新一代产品,如 PW2600,PW2400,RIX3000,SRS3000,ARL8410等仪器,各种高级软
引用
收藏
页码:34 / 38
页数:5
相关论文