晶粒取向3%Si-Fe畴结构的应力效应——Ⅰ.张力对畴结构的影响

本文用粉纹法仔细研究了晶粒取向3%Si-Fe中几种典型畴结构在张应力作用下的变化过程,阐明了不同类型畴结构变化的特点及规律,揭示了张应力使畴细化的机理,并导出了畴宽随张力变化的公式,从畴结构应力效应的角度,解释了损耗极小值对应的最佳倾角等重要的实验事实。