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电致失效力学
被引：15
作者：
杨卫
机构：
[1] 北京清华大学工程力学系
来源：
关键词：
失效力学；电致断裂；电致疲劳；电致迁移；迁移损伤;
D O I：
暂无
中图分类号：
O346.5 [损伤理论];
学科分类号：
080102 ;
摘要：
电致失效力学研究单调或交变电场载荷下由应力引起的失效行为，它包含了电致断裂、电致疲劳、电致迁移与电致损伤等新研究课题．本文概述了电致失效力学的领域与课题，并深入讨论了电致应变诱导断裂疲劳的机理及电迁移损伤的力电耦合过程．研究结果表明，电致失效力学可提供铁电陶瓷致动器和集成电路的若干关键设计参数．对铁电陶瓷多层共烧致动器，该分析提供其层厚、外加电场强度和交变电场循环周数．对集成电路内导线，该分析提供其允许电流密度和临界线长．
引用
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页码：338 / 352
页数：15
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