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湿热环境与电子产品可靠性
被引：15
作者：
彭骞
机构：
[1] 信息产业部电子第五研究所广东广州
来源：
关键词：
环境试验;
可靠性;
离子迁移;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN06 [测试技术及设备];
学科分类号：
080901 ;
摘要：
阐述了湿热环境对电子产品质量寿命的影响,并重点介绍了目前湿热试验的热门话题:离子迁移失 效的机理和试验方法。
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