功率谱密度函数评价方法探讨

被引：3

作者：

徐芳

魏全忠

伍凡

机构：

[1] 中科院光电技术研究所!成都

来源：

光学仪器 | 2000年 / 03期

关键词：

光学元件; 功率谱密度函数; 傅里叶分析;

D O I：

暂无

中图分类号：

O435.2 [光具组理论与象差理论];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

高能量、高分辨力光学系统给传统的光学面形评价指标提出了新的要求。各项测试技术 ,信息理论的更新给我们的研究提供了可能。介绍采用 PSD功率谱密度函数来评价光学元件面形中频误差

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共 2 条

[1]

Specif ication of optical component using power spectral density function. J K Lawson,C R Wolf e. The Spine Journal . 1995

[2]

Analysis of residual fabrication errors for computer controlled pollishing aspherical mirrors. Xuej un Zhang,J ingchi Yu. Optical Engineering . 1997