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扫描电子显微镜和X射线显微分析原理及在镀层测试上的应用
被引:9
作者
:
闫洪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
昆明冶金研究院
闫洪
机构
:
[1]
昆明冶金研究院
来源
:
机电元件
|
1994年
/ 03期
关键词
:
扫描电子显微镜;
X射线显微分析;
镀层;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TQ15 [电化学工业];
学科分类号
:
0817 ;
摘要
:
扫描电子显微镜与X射线显微分析相结合,可同时进行镀层微观形貌观察和镀层成分的综合分析。
引用
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页码:27 / 31
页数:5
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