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X射线荧光分析技术在冶金分析中的应用
被引：9
作者：
高新华
丁志强
机构：
[1] 飞利浦分析仪器中国用户应用技术帮助中心,飞利浦分析仪器中国用户应用技术帮助中心
来源：
关键词：
XRF;
X射线光谱分析;
表观浓度;
两点法校准;
D O I：
10.13228/j.boyuan.issn0449-749x.2001.03.022
中图分类号：
TF03 [冶炼试验与分析];
学科分类号：
080601 ;
摘要：
介绍了用于冶金原辅材料分析的通用软件“宽范围氧化物精确测定定量分析程序”(WRO)和专用于各类合金准确定量分析的 Ni Fe Co通用软件 ;适用于取制样条件较差 ,难以获得大块样品的生产现场的“钢削XRF直接测定”的定量分析方法。针对新材料解剖和现场条件较差 ,难获得大量标样的情况 ,还介绍了“Sem IQ”和“IQ+”两种无标定量分析软件在冶金分析中的应用
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