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触头形状对矿用交流接触器电接触可靠性的影响
被引:4
作者
:
郭凤仪,王其平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
西安交通大学
郭凤仪,王其平
孙鹤旭
论文数:
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引用数:
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0
机构:
西安交通大学
孙鹤旭
机构
:
[1]
西安交通大学
[2]
阜新矿业学院
来源
:
东北煤炭技术
|
1996年
/ 06期
关键词
:
触头,电接触,接触电阻,收缩电阻,膜电阻,导电斑点,四端法;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TD611.3 [];
学科分类号
:
摘要
:
根据电接触理论,分别对3种不同结构形状触头的电接触性能进行了分析研究,从室内和室外两种环境的试验结果及理论分析得出,H型触头具有最佳的电接触性能,桥式双断点触头的电接触性能最差。
引用
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页码:32 / 35
页数:4
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电子元器件的可靠性.[M].李能贵著;.西安交通大学出版社.1990,
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