触头形状对矿用交流接触器电接触可靠性的影响

被引:4
作者
郭凤仪,王其平
孙鹤旭
机构
[1] 西安交通大学
[2] 阜新矿业学院
关键词
触头,电接触,接触电阻,收缩电阻,膜电阻,导电斑点,四端法;
D O I
暂无
中图分类号
TD611.3 [];
学科分类号
摘要
根据电接触理论,分别对3种不同结构形状触头的电接触性能进行了分析研究,从室内和室外两种环境的试验结果及理论分析得出,H型触头具有最佳的电接触性能,桥式双断点触头的电接触性能最差。
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共 1 条
[1]  
电子元器件的可靠性.[M].李能贵著;.西安交通大学出版社.1990,