PIXE厚靶分析程序PKG

被引：6

作者：

何文权

承焕生

杨福家

机构：

[1] 复旦大学现代物理研究所!上海

[2] 不详

[3] 复旦大学李政道物理学综合实验室

来源：

关键词：

PIXE; 厚靶; 程序;

D O I：

10.15943/j.cnki.fdxb-jns.1998.01.004

中图分类号：

TP317 [程序包（应用软件）];

学科分类号：

1403 ;

摘要：

仔细选取厚靶PIXE计算中的各参数，编写了厚靶PIXE分析程序，并与国外同类程序进行了比较、验证．

引用

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页数：6

共 6 条

[1]

New parameters for the calculation of L subshell ionization crosssections. Sow CH,Orlic I,Loh KK,et al. Nuclear Instruments and Methods . 1993

[2]

Quantitative PIXE microanalysis of thick specimens. Campbell JL,Higuchi D,Maxwell JA,et al. Nuclear Instruments and Methods . 1993

[3]

A radially dependent photopeak efficiency model for SI(Li) detectors. Cohen DD. Nuclear Instruments and Methods . 1980

[4]

The Guelph PIXE software package II. Maxwell JA,Teesdale WJ,Campbell JL. Nuclear Instruments and Methods . 1995

[5]

Fitted empriical reference cross section for K-shell ionization by protons. Plal H,Sacher J. At Dataand Nucl Data Tables . 1989

[6]

Atomic radiative and radiationless Yields for K and L shells. Krause MO. Journal of Physical and Chemical Reference Data . 1979