半径约束最小二乘圆拟合方法及其误差分析

被引：77

作者：

刘珂

周富强

张广军

机构：

[1] 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院

[2] 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院北京

来源：

关键词：

最小二乘法; 半径约束; 圆拟合; 线结构光; 误差分析;

D O I：

10.16136/j.joel.2006.05.023

中图分类号：

TP391.7 [机器辅助技术];

学科分类号：

081203 ; 0835 ;

摘要：

针对基于线结构光视觉检测类圆工件三维测量中的光条圆弧特征数据所占整圆比例偏小,提出了基于半径约束最小二乘圆拟合方法。详细地分析了样本特征数据噪声对圆心定位精度的影响,并进行了仿真实验。实验结果表明,在光条圆弧特征数据所占整圆比例偏小的条件下,半径约束最小二乘圆拟合方法可以有效地提高圆中心定位精度。

引用

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