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地质样品中岩性自动分类X-射线荧光光谱分析研究
被引:21
作者:
罗立强
梁国立
马光祖
吉昂
郭常霖
机构:
[1] 中国科学院上海硅酸盐研究所
[2] 国家地质测试中心
来源:
关键词:
X-射线荧光分析,地质样品样条,函数;
D O I:
暂无
中图分类号:
O657.34 [X射线荧光分析法];
学科分类号:
摘要:
鉴于地质样品岩性变化大,容易引起对X-射线荧光分析准确度的影响,尤其是主、次量元素受影响更大,因此,作者提出了岩性自动分类,交互有效-基本参数法分析地质样品中主、次量元素,并与原有的经验系数和其它方法进行了比较.结果表明本方法的准确度更好些,对岩性的变化具有更好的适应能力
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