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X射线能谱分析的新进展
被引：1
作者：
章一呜
机构：
[1] 中国科学院北京科学仪器研制中心
来源：
关键词：
第三代;
第四代;
探测器;
图象分辨率;
能谱仪;
图象分析;
景物分析;
探测范围;
图像处理;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
<正> 伴随着计算机技术的迅速发展,在近15年中X射线能谱仪及其分析方法突飞猛进。从1984年开始第三代的能谱仪问世,虽然它不仅可从事微区元素分析,而且可以进行图像处理和图象分析,成为发展最快使用最广的微区分析仪器。但是在超轻元素的分析、对谱线重叠的元素的定性分析、图像处理和图像分析的功能和速度方面还存在一系列问题有待改进。一:从1990年开始,出现了第四代能谱仪,目前正在第三代和第四代能谱仪的交替过程中,相信在不久的将来第四代能谱仪将在商品市场上完全替代第三代能谱仪。现以同一公司生产的这两代能谱仪在硬件方面的主要差别罗列于下:
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