基于SVM的模拟电子系统多故障诊断研究

在通常的故障诊断中,一个约定的假设是系统在同一时刻至多只有一个故障发生。然而,对于拥有冗余设计或在工作过程中几乎没有维修和保养机会的系统(如大型航空航天器等),该假设往往并不成立。另外,对于系统的关键性设备,获得足够的典型故障样本通常非常困难。针对这种情况,本文以模拟电路系统为研究对象,提出了一种多故障诊断方法。首先建立了系统的多故障模型,在此基础上用小波变换作为预处理器进行特征提取,最后采用多类支持向量机(SVM)实现故障识别。仿真结果验证了该方法的可行性。