容差条件下PSO算法诊断模拟电路单软故障方法

被引：10

作者：

周龙甫 ^{[1
,2
]}

师奕兵 ^{[1
]}

李焱骏 ^{[1
]}

机构：

[1] 电子科技大学自动化工程学院

[2] 解放军第医院CT室

来源：

计算机辅助设计与图形学学报 | 2009年 / 21卷 / 09期

关键词：

模拟电路; 故障诊断; 微粒群算法; 灵敏度; 线性规划;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN710 [电子电路];

学科分类号：

080902 ;

摘要：

为了定量地诊断模拟电路中的单个软故障,提出一种容差条件下基于微粒群优化理论的诊断方法.首先通过灵敏度分析建立电路测试节点电压增量方程,以及模拟电路故障诊断的约束线性规划方程组;然后引入罚函数,把微粒群算法应用到方程的求解中;最后估计出电路各元件参数的最小变化量,并与各元件容差范围相比较来定位故障元件.仿真实验结果表明,该方法兼顾故障元件的定位和故障元件参数变化量的估计,可以有效地实现模拟电路在容差条件下的软故障定量诊断.

引用

页码：1270 / 1274

页数：5