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离子辅助制备碳化硅改性薄膜
被引:19
作者:
陈红
高劲松
宋琦
王彤彤
申振峰
王笑夷
郑宣鸣
范镝
机构:
[1] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
来源:
关键词:
反应烧结碳化硅;
表面改性;
离子辅助沉积;
霍尔源;
表面散射系数;
D O I:
暂无
中图分类号:
O484.1 [薄膜的生长、结构和外延];
学科分类号:
080501 ;
1406 ;
摘要:
介绍了一种利用霍尔型离子源辅助电子束蒸发,在反应烧结碳化硅(RB-SiC)材料上制备硅改性薄膜的方法,研究了不同沉积速率下薄膜改性后的抛光效果。对样品进行了表面散射及反射的测量。通过样品的显微照片可知,硅膜层在沉积速率增大的条件下结构趋于疏松。在精细抛光镀制有硅改性薄膜的反应烧结碳化硅样品后,表面散射系数减小到1.46%,反射率接近抛光良好的微晶玻璃。温度冲击实验和表面拉力实验表明:硅膜无龟裂和脱落,性质稳定,与碳化硅基底结合良好。
引用
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页码:381 / 385
页数:5
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