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过程辨识.[M].方崇智;萧德云编著;.清华大学出版社.1988,
基于递推PLS的自适应软测量模型及其应用
被引：17
作者：
汪小勇
梁军
刘育明
王文庆
机构：
[1] 浙江大学工业控制技术国家重点实验室
[2] 齐鲁石化股份公司塑料厂
来源：
关键词：
递推偏最小二乘;
限定记忆法;
自适应软测量;
D O I：
暂无
中图分类号：
TP274.4 [];
学科分类号：
摘要：
针对基于批量数据的传统偏最小二乘(PLS)模型无法随生产过程的变化而更新的问题,提出基于块式递推PLS的限定记忆法.新的自适应算法保持定长数据块队列,根据最新采集的数据块更新模型,并按数据块的时间先后运用遗忘因子赋予其相应的可信度,从而确保模型跟踪过程变化.结合实际工业过程的应用要求,给出了方法的实施步骤,并运用该方法建立了气相聚乙烯工业生产过程质量指标的自适应软测量模型.与固定PLS模型相比,该模型能更好地跟踪过程变化,具有更高的预测精度.
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页码：676 / 680
页数：5
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