超薄Al膜可见光光学特性与其特征尺寸的关系

被引:3
作者
白雪冬
黄荣芳
闻立时
机构
[1] 中国科学院金属研究所!沈阳
关键词
光学函数; 介电函数; 超薄铝膜;
D O I
10.13922/j.cnki.cjovst.1999.02.006
中图分类号
TB74 [真空材料];
学科分类号
0805 ;
摘要
利用WFZ90 0 D4型紫外 /可见光分光光度计 ,测量了磁控测射超薄Al膜的可见光反射比和透射比。采用牛顿 辛普森方法确定超薄Al膜光学函数 ,进而计算其介电函数 ,得到了它们随膜厚变化的关系。结果表明 ,不同特征尺寸的薄膜 ,具有不同的电磁特性参数
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共 1 条
[1]   金属薄膜形成过程中电导特性变化的有效媒质理论 [J].
曹晓晖,唐兆麟,黄荣芳,闻立时,师昌绪 .
金属学报, 1996, (04) :404-408