正常人牙、颌、面生长发育的X线头影测量研究

<正> 牙、颌、面正常发育的知识,是诊断错(牙合)畸形的理论基础。因此,这种知识是具有临床指导意义的。研究牙、颌、面生长发育的方法很多。近30余年来,普遍采用 X 线头影测量法来作此项研究。X 线头影测量,是在定位摄取的X 线头影象片上,进行测量分析的一种方法。其优点在于能了解牙、颌、面内部结构的相互关系,及研究儿童生长过程中,牙、颌、面各部结构的变化。本研究用此头影测量法,对北京市正常(牙合)儿童及青少年牙、颌、面长度、高度及角度的生长变化情况作了探讨。