基于神经网络专家系统方法的测试产生系统

被引：1

作者：

潘中良

陈光

机构：

[1] 电子科技大学CAT室!成都

来源：

电子测量与仪器学报 | 1997年 / 01期

关键词：

测试生成; 神经网络; 专家系统; Cauchy机; 电路结构分析;

D O I：

10.13382/j.jemi.1997.01.002

中图分类号：

TP18 [人工智能理论];

学科分类号：

081104 ; 0812 ; 0835 ; 1405 ;

摘要：

本文论述在微型机上实现的一种组合电路测试图形产生系统TES，该系统以神经网络专家系统方法为基础，通过对被测电路的结构进行分析，生成与电路对应的一种神经网络．并由Cauchy机获得故障的测试图形。本文同时也介绍了提高系统性能所采用的敏化通路，蕴涵结点，电路分块等策略。实验结果表明，TES系统界面友好，操作简便，能达到较高的故障覆盖率。

引用

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