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从47届丹佛X射线会议看X射线荧光分析的发展
被引：8
作者：
茅祖兴
机构：
[1] 国家标准物质研究中心
来源：
关键词：
丹佛X射线分析会议；痕量元素分析；微分析;
D O I：
10.15898/j.cnki.11-2131/td.1999.02.016
中图分类号：
O657.34 [Ｘ射线荧光分析法];
学科分类号：
070302 ;
081704 ;
摘要：
介绍了４７届丹佛Ｘ射线会议的简况。从会议的专题讲座和提交的学术论文可见，全反射Ｘ射线荧光、同步辐射、高能量分辨率超导检出器和聚毛细管光学透镜等新技术的引入，大大地推动了Ｘ射线荧光痕量分析和微分析的发展
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页码：68 / 71+78
页数：5
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