GaAs器件寿命试验及其方法比较

被引：3

作者：

崔晓英

机构：

[1] 电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室工业和信息化部电子第五研究所

来源：

关键词：

GaAs; 可靠性; 加速寿命试验; 寿命评估;

D O I：

暂无

中图分类号：

O213.2 [可靠性理论];

学科分类号：

020208 ; 070103 ; 0714 ;

摘要：

本文介绍了加速寿命试验方法的理论基础,并针对GaAs器件概述了几种常用的寿命试验方法及其数据处理模型,在阐述了加速寿命试验的实施过程后,对几种寿命试验方法进行了比较,并明确其各自的优缺点,指出研究既快速又准确的加速寿命测试方法对于GaAs PHEMT器件的可靠性保证具有非常重要的意义。

引用

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页数：6

共 5 条

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