光声光谱位相分离法测定双层结构样品

被引：3

作者：

赵贵文

吴家齐

机构：

[1] 中国科学技术大学,中国科学技术大学合肥,合肥

来源：

关键词：

光声光谱; 双层结构样品; 相分离法; 植物叶片; 超导薄膜;

D O I：

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学科分类号：

摘要：

本文报道了用光声光谱计算机位相分离法测定叶片的内层叶绿体光声光谱和淀积在陶瓷衬底上的Ba-Y-Cu-O超导体薄膜的光声光谱。本方法能排除衬底或表层吸收的干扰。本文并对测定薄膜厚度及致密程度的方法进行了讨论。

引用

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