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表面活性剂存在下槲皮素荧光光度法测定微量锗
被引：7
作者：
程先忠
马自诚
何应律
机构：
[1] 宜昌地质矿产研究所,宜昌地质矿产研究所,中国地质大学应用化学系宜昌,,宜昌,,武汉,
来源：
关键词：
锗;
荧光分析;
槲皮素;
十二烷基磺酸钠;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
本文研究了在十二烷基磺酸钠(SL sulfonate)的作用下,锗(Ⅳ)与槲皮素的荧光反应,在1.8mol/L的盐酸介质中,锗的三元荧光配合物最大激发波长为423nm,在486nm处有最大荧光强度。含量在0～1.6μg/10ml范围内与荧光强度成线性关系。方法灵敏度为0.002μg Ge/ml,试验了30多种共存离子对锗测定的影响。拟定的方法灵敏度高,选择性好,操作简便,可以用于地质样品中微量锗的测定。
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页码：680 / 682
页数：3
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