红外焦平面阵列剩余非均匀性的测试和检验

提出了一套检验已校正红外焦平面阵列的系统和方法。包括硬件规格、数据精度、记录速度和容量的要求、需要测试的数据以及要进行的算法分析等。根据所采用非均匀性校正算法的不同，需要采集多套数据用于不同目的的测试。