FPGA中的空间辐射效应及加固技术

被引：10

作者：

李冬梅

王志华

高文焕

张尊侨

机构：

[1] 北京清华大学电子工程系!

来源：

电子技术应用 | 2000年 / 08期

关键词：

FPGA; 辐射效应; 抗辐射加固;

D O I：

10.16157/j.issn.0258-7998.2000.08.001

中图分类号：

TN40 [一般性问题];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

介绍空间辐射环境对FPGA造成的各种辐射效应及所需要采取的加固措施。不同类型的FPGA中的辐射机理及加固措施有所不同。在基于反熔丝型FPGA中，其辐射效应主要是介质的绝缘击穿，加固措施主要是增加反熔丝厚度，采用三模冗余等技术。在基于SRAM型FPGA中的辐射效应会造成配置失效，加固措施主要是采用监测电路，当配置发生错误时，通过重新配置来恢复系统。

引用

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