颗粒粒度测试技术

被引：11

作者：

杨初平

习岗

杨冠玲

机构：

[1] 华南农业大学理学院

[2] 华南师范大学物理系

来源：

工科物理 | 1999年 / 04期

关键词：

颗粒；颗粒粒度;

D O I：

暂无

中图分类号：

TB390.21 [];

学科分类号：

摘要：

本文介绍了颗粒测量的意义及有关测量的原理和技术

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共 1 条

[1] Kuepfer H. et al.Intragrain junctions in Y Ba sub ( 2 ) Cu sub ( 3 ) O sub ( 7 minus X )ceramics and single crystals. Cryogenics . 1989