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边界扫描测试技术在集成电路测试中的应用
被引：1
作者：
耿爽
[1
]
宋金杨
[1
]
郜月兰
[2
]
机构：
[1] 东北微电子研究所
[2] 沈阳辽海机械厂
来源：
关键词：
边界扫描;
边界扫描测试技术;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN407 [测试和检验];
学科分类号：
080903 ;
1401 ;
摘要：
边界扫描技术是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案。介绍了边界扫描技术的原理、结构,讨论了该技术在集成电路测试中的应用。
引用
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