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构造地质研究中应用x光岩组方法需注意的几个问题
被引:13
作者
:
陈柏林
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
中国地质科学院地质力学研究所
陈柏林
刘兆霞
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机构:
中国地质科学院地质力学研究所
刘兆霞
机构
:
[1]
中国地质科学院地质力学研究所
来源
:
地质力学学报
|
1996年
/ 04期
关键词
:
构造地质研究,x光岩组测量;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
P54 [构造地质学];
学科分类号
:
070904 ;
摘要
:
本文简述了x光岩组分析的特点和样品的选择,重点阐述了石英组构特征与岩石整体变形及石英矿物粒内变形的关系。在介绍石英x光极图转换成石英光轴图的方法之后,作者运用实例说明了将x光岩组方法与其它显微构造及组构方法(如费氏台岩组测量)结合起来,可获得更多的信息用于构造地质研究
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页码:75 / 81
页数:7
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共 1 条
[1]
构造岩岩组学.[M].郑伯让;金淑燕编;.中国地质大学出版社.1989,
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