模糊聚类与SVM诊断模拟电路单软故障的方法

被引：10

作者：

孙永奎 ^{[1
]}

陈光 ^{[1
]}

李辉 ^{[2
]}

机构：

[1] 电子科技大学自动化工程学院

[2] 电子科技大学空天科学技术研究院

来源：

计算机辅助设计与图形学学报 | 2008年 / 05期

关键词：

模拟电路; 故障诊断; 模糊聚类; 支持向量机;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN710 [电子电路];

学科分类号：

摘要：

针对低可测性模拟电路中存在的模糊组问题,提出一种模拟电路单个软故障诊断的方法.该方法对被测电路的故障进行模糊聚类,根据聚类的有效性指标自适应确定聚类数,并利用聚类的信息来确定可测元件集,引入支持向量机对故障进行分类识别.支持向量机结构简单、泛化能力强.最后,以模拟和混合信号测试标准电路证实了文中方法的有效性.

引用

页码：612 / 617

页数：6

共 8 条

[1] 多层感知机在模拟/混合电路故障诊断中的应用 [J].

王承 ;

陈光 ;

谢永乐 .

仪器仪表学报, 2005, (06) :578-581

[2]

支持向量机导论[M]. 电子工业出版社 , (英)NelloCristianini, 2004

[3]

模拟系统的故障诊断与可靠性设计[M]. 清华大学出版社 , 杨士元编著, 1993

[4] On fuzzy cluster validity indices [J].

Wang, Weina ;

Zhang, Yunjie .

FUZZY SETS AND SYSTEMS, 2007, 158 (19) :2095-2117

[5] Neural network-based analog fault diagnosis using testability analysis [J].

Cannas, B ;

Fanni, A ;

Manetti, S ;

Montisci, A ;

Piccirilli, MC .

NEURAL COMPUTING & APPLICATIONS, 2004, 13 (04) :288-298

[6] Asymptotic behaviors of support vector machines with Gaussian kernel [J].

Keerthi, SS ;

Lin, CJ .

NEURAL COMPUTATION, 2003, 15 (07) :1667-1689

[7]

Fault Diagnosis of Analog Circuits Using Bayesian Neural Networks with Wavelet Transform as Preprocessor[J] . Farzan Aminian,Mehran Aminian.Journal of Electronic Testing . 2001 (1)

[8] SUPPORT-VECTOR NETWORKS [J].

CORTES, C ;

VAPNIK, V .

MACHINE LEARNING, 1995, 20 (03) :273-297

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