高速ADC微分相位、微分增益的测试

被引：3

作者：

李迅波

陈光

严顺柄

机构：

[1] 电子科技大学

[2] 四川固体物理研究所四川成都

[3] 四川成都

[4] 重庆

来源：

电子学报 | 2003年 / 12期

关键词：

微分相位; 微分增益; 数字处理技术; 模数转换;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN707 [测试、检验];

学科分类号：

080902 ;

摘要：

本文采用数字处理技术对高速ADC的微分相位、微分增益的测试方法进行研究 ,给出了方程式 ,构建了数字测试系统 ,完成了高速ADC微分相位及微分增益的测试 ,该方法适用于大批量的ADC动态参数的测试 .

引用

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页码：1897 / 1899

页数：3

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共 2 条

[1] 基于数字处理技术的ADC动态测试及分析 [J].

李迅波 ;

廖述剑 ;

陈光 ;

严顺柄 .

仪器仪表学报, 2000, (03) :293-296

[2] 高速ADC中定时动态参数的测试 [J].

廖述剑 ;

李迅波 ;

陈光 .

电子测量与仪器学报, 1999, (02) :10-13