用离子束溅射淀积的氧化物薄膜的折射率

被引:11
作者
顾培夫
李海峰
章岳光
刘旭
唐晋发
机构
[1] 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室杭州,杭州,杭州,杭州,杭州
关键词
离子束溅射; 氧化物薄膜; 折射率;
D O I
暂无
中图分类号
O484.41 [];
学科分类号
0803 ;
摘要
介绍了用于波长为 15 5 0nm光通讯波分复用 /解复用滤光片的离子束溅射的Ta2 O5和SiO2 薄膜在法里珀罗多层膜中的折射率的实时拟合方法及拟合结果 ,给出了它们的淀积时间、淀积速率和计算的光学厚度 ,分析了这些结果的可靠性
引用
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共 1 条
  • [1] Temperature stability of thin-film narrow-bandpass filters produced by ion-assisted deposition .2 Takashashi H. Applied Optics . 1995