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用离子束溅射淀积的氧化物薄膜的折射率
被引:11
作者
:
顾培夫
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浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室杭州,杭州,杭州,杭州,杭州
顾培夫
李海峰
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浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室杭州,杭州,杭州,杭州,杭州
李海峰
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机构:
章岳光
刘旭
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浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室杭州,杭州,杭州,杭州,杭州
刘旭
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机构:
唐晋发
机构
:
[1]
浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室杭州,杭州,杭州,杭州,杭州
来源
:
光学学报
|
2002年
/ 03期
关键词
:
离子束溅射;
氧化物薄膜;
折射率;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O484.41 [];
学科分类号
:
0803 ;
摘要
:
介绍了用于波长为 15 5 0nm光通讯波分复用 /解复用滤光片的离子束溅射的Ta2 O5和SiO2 薄膜在法里珀罗多层膜中的折射率的实时拟合方法及拟合结果 ,给出了它们的淀积时间、淀积速率和计算的光学厚度 ,分析了这些结果的可靠性
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[1]
Temperature stability of thin-film narrow-bandpass filters produced by ion-assisted deposition .2 Takashashi H. Applied Optics . 1995
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Temperature stability of thin-film narrow-bandpass filters produced by ion-assisted deposition .2 Takashashi H. Applied Optics . 1995
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