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X射线荧光光谱仪的现状
被引:36
作者
:
杨明太
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国工程物理研究院
杨明太
机构
:
[1]
中国工程物理研究院
来源
:
核电子学与探测技术
|
2006年
/ 06期
关键词
:
X射线;
X射线荧光光谱仪;
分析技术;
综述;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TH744.1 [];
学科分类号
:
0803 ;
摘要
:
综述了波长色散X射线荧光光谱仪和能量色散X射线荧光光谱仪的现状和发展趋势,及其X射线荧光光谱仪的拓展,介绍了部分具有代表性的X射线荧光光谱仪的主要性能。
引用
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页码:1025 / 1029
页数:5
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[1]
高灵敏度的全反射X射线荧光光谱仪的研制
[J].
张天佑
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地矿部全反射X射线荧光光谱技术组
张天佑
;
李国会
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李国会
;
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地矿部全反射X射线荧光光谱技术组
朱永奉
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黄新跃
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吕金卯
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地矿部全反射X射线荧光光谱技术组
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.
岩矿测试,
1998,
(01)
:70
-76
[2]
Historical Development and Principles of Total Reflection X - Ray Fluorescence Analysis (TXRF) .2 Aiginger H. Spectrochim Acta . 1991
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共 2 条
[1]
高灵敏度的全反射X射线荧光光谱仪的研制
[J].
张天佑
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地矿部全反射X射线荧光光谱技术组
张天佑
;
李国会
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地矿部全反射X射线荧光光谱技术组
吕金卯
.
岩矿测试,
1998,
(01)
:70
-76
[2]
Historical Development and Principles of Total Reflection X - Ray Fluorescence Analysis (TXRF) .2 Aiginger H. Spectrochim Acta . 1991
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