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Reducing Average and Peak Test Power Through Scan Chain Modification[J] . Ozgur Sinanoglu,Ismet Bayraktaroglu,Alex Orailoglu.Journal of Electronic Testing . 2003 (4)
测试数据压缩和测试功耗协同优化技术
被引：14
作者：
韩银和
李晓维
机构：
[1] 中国科学院计算技术研究所信息网络室
[2] 中国科学院计算技术研究所信息网络室 北京
[3] 中国科学院研究生院北京
[4] 北京
来源：
关键词：
测试数据压缩;
测试功耗;
Golomb编码;
海明距离;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN402 [设计];
学科分类号：
080903 ;
1401 ;
摘要：
提出一种新的压缩编码———VariableTail对测试数据进行压缩.建立了两个优化模型,并提出了一种测试向量排序和不确定位定值算法.利用该算法不仅能提高测试压缩率,而且能降低测试时待测电路上损耗的功耗.理论分析和ISCAS85,ISCAS89电路的实验结果验证了文中编码和算法的有效性.
引用
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页码：1307 / 1311
页数：5
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