温度对真空断路器触头材料耐电压强度的影响

被引：1

作者：

丁秉钧

李宏群

王笑天

王季梅

吴学栋

冯巧贤

机构：

[1] 西安交通大学

[2] 秦川机械厂

来源：

高压电器 | 1990年 / 06期

关键词：

触头材料; 耐电压强度; 真空断路器; 电场强度; Cu;

D O I：

10.13296/j.1001-1609.hva.1990.06.008

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

本文测定了Cu、Cu-Te、Ca-Se、Cu-Te-Se-Fe、Cu-Cr等触头材料在300～1600K温度范围内的耐电压强度。测定结果表明,对于不同的触头材料,存在不同的临界温度。并用扫描电镜观察了在高温下被击穿触头材料的表面形貌,根据观察到的形貌特点和Langmuir空间电荷方程讨论了温度对耐电压强度的影响。

引用

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