各向异性磁电阻传感器高精度测试技术

被引：8

作者：

张晓明 ^{[1
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]}

杨国欢 ^{[1
]}

赖正喜 ^{[1
]}

赵代弟 ^{[1
]}

机构：

[1] 中北大学电子测试技术重点实验室

[2] 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室

来源：

测试技术学报 | 2015年 / 29卷 / 01期

关键词：

各向异性磁电阻传感器; 温度漂移; “复位/置位”测试技术;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP212 [发送器（变换器）、传感器];

学科分类号：

080202 ;

摘要：

针对各向异性磁电阻(AMR)传感器在受到强磁干扰后灵敏度下降问题和温漂问题,提出运用"复位/置位"脉冲对传感器进行高精度测量的技术.分析了各向异性磁电阻传感器工作原理和复位/置位结构;阐述了复位/置位测试方案和零点补偿方法;设计了相应的电路,并进行了一系列的实验验证.实验结果表明:采用基于"复位/置位"脉冲的AMR磁传感器高精度测试技术可以有效解决磁阻传感器受强磁干扰后灵敏度下降问题,并有效消除AMR传感器零点温度漂移影响,提高了传感器的测量精度.在高精度磁场测量领域具有参考意义.

引用

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