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MCU应用系统的可靠性设计纲要VO.5
被引：8
作者：
何立民
机构：
[1] 北京航空航天大学!
来源：
关键词：
可靠性设计;
VO.5;
防止故障设计;
应用系统;
软件可靠性;
MCU;
可靠性控制;
外围器件;
D O I：
10.16157/j.issn.0258-7998.1999.05.001
中图分类号：
TP273.5 [];
学科分类号：
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